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半導体テストマシン
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検索結果： 5 件 1 ～ 5 件を表示
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 | CKD | VP3000 | 2007 | 稼働時間：458Hr 対象基板サイズ：50×50～330×250mm 検査分解能：水平分解能 8μm 検査視野：12×9mm 検査速度… | 99万 | ||||
| KOBELCO | LTA-500 | 1996 | KOBELCO社製 ライフタイム測定装置 LTA-500 【仕様】 ・装置構成 1：装置本体1（650(W)×370(D)mm） 2：装… | 550万 | ||||
| Nordson DAGE | XD7600NT | 2011 | 試料ステージ： 20" x 17.5" (508 x 444mm) 最大検査エリア： 18" x 16" (458 x 407 mm) 測定… | 1,100万 | ||||
| トプコン | Vi-4202 | 2004 | 旧TOPCON社製 ウェーハ外観検査装置 Vi-4202 【仕様】 ・装置構成 1：本体（1650(W)×1450(D)×1820(H)mm… | 1,650万 | ||||
| 日立ハイテク | Mirelis VM1000 | 2019 | 日立ハイテク社製 ミラー電子式検査装置 Mirelis VM1000 【仕様】 ・欠陥検出性能 SiC基板(ウェーハ)に形成した疑似欠陥を観察 … | 17,600万 |
