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検査・テストマシン, 半導体製造

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波長位相差・透過率測定装置

Axometrics

AxoScan

2019

高速測定で試料のミュラーマトリクスを実測し、試料の光学特性を導き出す 架台付き光学実験台:HA-2012-150L(シグマ光機)

2,310,000

山梨県(Yamanashi)

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ウエハー検査顕微鏡

ニコン

OPTIPHOT200/NWL-851

<OPTIPHOT200 顕微鏡本体部> ・対物レンズ:CF Plan5× BD NA0.135/ 10×BD NA0.30/ 50×BD NA0…

    熊本県(Kumamoto)

    東京エンジ

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    段差計

    東朋テクノロジー

    FP-20B

    半導体ウエハ・厚膜ヘッド ・精密に加工された表等の粗さ・うねり・段差測定装置 最大分解能:0.5Å

      4,950,000

      山梨県(Yamanashi)

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