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半導体テストマシン | 東京都(Tokyo)

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ウェーハ外観検査装置

トプコン

Vi-4202

2004

旧TOPCON社製 ウェーハ外観検査装置 Vi-4202 【仕様】 ・装置構成 　1：本体（1650(W)×1450(D)×1820(H)mm…

    1,650万

    東京都(Tokyo)

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