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検査・テストマシン, 半導体製造 | 山梨県(Yamanashi)

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欠陥検査装置(マイクロフォーカスX線装置)

Nordson DAGE

XD7600NT

2011

試料ステージ: 20" x 17.5" (508 x 444mm)  最大検査エリア: 18" x 16" (458 x 407 mm)  測定…

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