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半導体テストマシン | 山梨県(Yamanashi)

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ライフタイム測定装置

KOBELCO

LTA-500

1996

KOBELCO社製 ライフタイム測定装置 LTA-500 【仕様】 ・装置構成 　1：装置本体1（650(W)×370(D)mm） 　2：装…

    550万

    山梨県(Yamanashi)

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    欠陥検査装置(マイクロフォーカスX線装置)

    Nordson DAGE

    XD7600NT

    2011

    試料ステージ： 20" x 17.5" (508 x 444mm)　 最大検査エリア： 18" x 16" (458 x 407 mm)　 測定…

      1,100万

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